Aller au contenu. | Aller à la navigation

Navigation

• À propos

  Qu'est-ce que la métrologie légale ? La métrologie légale et le commerce La métrologie légale et la sécurité La métrologie légale et la santé La métrologie légale et l'environnement Avantages d’être Membre de l’OIML

  MoU CEI ISO ONUDI-BIPM ILAC-IAF Organisations en Liaison

  Qu'est-ce que l'OIML ? Déclarations conjointes

• Publications

  Introduction Documents Guides Projets finaux de publications

  Bulletin OIML Numéros précédents Publications de Base Rapports d'Expert Autres traductions

  Recommandations Vocabulaires VIML en ligne Rapports de Séminaires

• Structure

  Nos Membres Etats Membres Membres Correspondants Conférence Sites web de Conférences, Résolutions, Compte rendus

  CIML Sites web de CIML, Résolutions, Compte rendus Présidence Anciens Présidents Membres d'Honneur Récompenses Médailles Lettres de félicitations Récompense OIML CEEMS TCs et SCs

  Systèmes de métrologie émergeants (CEEMS) Groupe consultatif Appartenance au Groupe consultatif Plateforme d'apprentissage en ligne Pour aller plus loin BIML Informations pratiques Anciens Directeurs Vacances de poste

• OIML-CS

  Informations générales

  OIML-CS en Anglais

• Événements

  Réunions techniques OIML Séminaires OIML

  Conférence OIML

  Réunions du CIML

• TC/SC/PG

  TCs, SCs et Projets Projets de Comité

  Recherche (technique) Rapports & statistiques

  Liaisons techniques

Info