Toggle navigation
English
Contact
Chercher par
Recherche avancée…
Se connecter
Toggle navigation
À propos
Qu'est-ce que la métrologie légale ?
La métrologie légale et le commerce
La métrologie légale et la sécurité
La métrologie légale et la santé
La métrologie légale et l'environnement
MoU
CEI
ISO
ONUDI-BIPM
ILAC-IAF
INetQI
Qu'est-ce que l'OIML ?
70e anniversaire de l'OIML
Organisations en Liaison
Politique et législation
Brochure BIPM/OIML sur D 1
Avantages d’être Membre de l’OIML
Déclarations conjointes
Publications
Introduction
Documents
Vocabulaires
VIML en ligne
Rapports de Séminaires
Recommandations
Publications de Base
Rapports d'Expert
Bulletin OIML
Numéros publiés
Editions futures
Soumettre un article
Guides
Autres traductions
Structure
Nos Membres
Etats Membres
Membres Correspondants
Conférence
Sites web, Résolutions, Compte rendus
17ème Conférence (2025)
BIML
Informations pratiques
Anciens Directeurs
Vacances de poste
CIML
Sites web, Résolutions, Compte rendus
Présidence
Anciens Présidents
Membres d'Honneur
Récompenses
Médailles OIML
Lettres de félicitations OIML
Récompense CEEMS
60ème Réunion du CIML (2025)
TCs et SCs
Digitalisation Task Group
Systèmes de métrologie émergeants (CEEMS)
Groupe consultatif
Appartenance au Groupe consultatif
Centres et événements de formation
Matériel de formation
Séminaires
Liste d'Experts
Récompenses CEEMS
Apprentissage en ligne de l'OIML
Table Ronde RLMO
OIML-CS
Informations générales
Recherche d'Autorités de Délivrance
OIML-CS en Anglais
Recherche d'Utilisateurs et Associés
Recherche de certificats enregistrés
Infos & Réunions
Réunions et événements OIML
Conférence OIML
Réunions et événements externes
Réunions du CIML
COP30
Séminaires OIML
Transformation numérique
TC/SC/PG
TCs, SCs et Projets
Liaisons techniques
Recherche (technique)
Projets de Comité
Vous êtes ici :
TC/SC/PG
…
TC17
SC7
Contacts
TC17/SC7
Ethylomètres et éthylotests
International Electrotechnical Commission
Retour
