English
Contact

Chercher par

Recherche avancée…

Se connecter

À propos
- Qu'est-ce que la métrologie légale ?
- Qu'est-ce que l'OIML ?
  - 70e anniversaire de l'OIML
- Avantages d’être Membre de l’OIML
- MoU
Publications
- Bulletin OIML
Structure
- Nos Membres
  - Etats Membres
  - Membres Correspondants
- BIML
- CIML
- Conférence
  - Sites web, Résolutions, Compte rendus
  - 17ème Conférence (2025)
OIML-CS
- Informations générales
- OIML-CS en Anglais
- Recherche de certificats enregistrés
- Recherche d'Autorités de Délivrance
- Recherche d'Utilisateurs et Associés
Travaux techniques
- TCs, SCs et Projets
- Recherche (technique)
- Projets de Comité
- Liaisons techniques
Infos, Réunions, Formations
- Infos
- Conférence OIML
- Réunions du CIML
- Apprentissage en ligne
- Séminaires OIML
  - Transformation numérique

Vous êtes ici :

files
Thumbnails (Recommendations)
R 33:1973 (fr)

R 33:1973 (fr) https://www.oiml.org/fr/files/thumbnails_r/r033-f73.jpg/view https://www.oiml.org/fr/files/thumbnails_r/r033-f73.jpg/@@download/image/r033-f73.jpg

R 33:1973 (fr)

R 33:1973 (fr) — Cliquez pour voir l'image dans sa taille originale… Taille: 47.5 KB

Journée Mondiale Métrologie 2026

Journée Mondiale Métrologie 2026

61e réunion du CIML

61e réunion du CIML

Bulletin OIML<br>2026 n<sup>o</sup> 3

Bulletin OIML
2026 n^o 3

Actualités

Actualités

Publications

Publications

Apprentissage<br>en ligne

Apprentissage
en ligne

Contacter le staff du BIML
Infos pratiques
Avertissement
Politique de confidentialité & protection des données
Webmaster

BIML - 11 rue Turgot - 75009 Paris - France - Tel +33 1 48 78 12 82 - Fax +33 1 42 82 17 27

© Copyright OIML 2021

Web design: rouge-pixel.com