• English
  • Contact
Recherche avancée…
  • Se connecter
International Organization of Legal Metrology
  • À propos
    • Qu'est-ce que la métrologie légale ?
      • La métrologie légale et le commerce
      • La métrologie légale et la sécurité
      • La métrologie légale et la santé
      • La métrologie légale et l'environnement
    • Qu'est-ce que l'OIML ?
      • 70e anniversaire de l'OIML
    • Avantages d’être Membre de l’OIML
    • MoU
      • Global ACI
      • IEC
      • ISO
      • ONUDI-BIPM
      • UNESCO
    • Organisations en Liaison
    • Déclarations conjointes
    • INetQI
    • Politique et législation
      • Brochure BIPM/OIML sur D 1
  • Publications
    • Introduction
    • Recommandations
    • Documents
    • Guides
    • Publications de Base
    • Vocabulaires
      • VIML en ligne
    • Rapports d'Expert
    • Rapports de Séminaires
    • Autres traductions
    • Bulletin OIML
      • Numéros publiés
      • 2026-03
      • 2026-02
      • 2026-01
      • 2025-04
      • 2025-03
      • 2025-02
      • Editions futures
      • Soumettre un article
  • Structure
    • Nos Membres
      • Etats Membres
      • Membres Correspondants
    • BIML
      • Informations pratiques
      • Vacances de poste et autres opportunités
      • Appels d'offres
      • Anciens Directeurs
    • CIML
      • Sites web, Résolutions, Compte rendus
      • Présidence
      • Anciens Présidents
      • Membres d'Honneur
      • Récompenses
        • Médailles OIML
        • Lettres de félicitation OIML
        • Récompenses CEEMS
      • 61e réunion du CIML (2026)
    • Conférence
      • Sites web, Résolutions, Compte rendus
      • 17ème Conférence (2025)
    • Systèmes de métrologie émergeants (CEEMS)
      • Groupe consultatif
        • Appartenance au Groupe consultatif
      • Centres et événements de formation
      • Matériel de formation
      • Séminaires
      • Liste d'Experts
      • Apprentissage en ligne de l'OIML
      • Récompenses CEEMS
    • Digitalization Task Group
    • TCs et SCs
    • Table Ronde RLMO
  • OIML-CS
    • Informations générales
    • OIML-CS en Anglais
    • Recherche de certificats enregistrés
    • Recherche d'Autorités de Délivrance
    • Recherche d'Utilisateurs et Associés
  • Travaux techniques
    • TCs, SCs et Projets
    • Recherche (technique)
    • Projets de Comité
    • Liaisons techniques
  • Infos & Réunions
    • Infos
    • Conférence OIML
    • Réunions du CIML
    • Séminaires OIML
      • Transformation numérique
    • COP30
Vous êtes ici :
  1. Structure
  2. Nos Membres
  3. SC6

TC3/SC6 Conformité au type

Ruler

Contact BIML

Mr Paul DIXON

Secrétariat

  • NOUVELLE ZÉLANDE
    Mr Stephen O'BRIEN

Membres participants (22)

  • AFRIQUE DU SUD
  • ALLEMAGNE
  • AUSTRALIE
  • BRÉSIL
  • CANADA
  • ÉTATS-UNIS
  • ÉTHIOPIE
  • FÉDÉRATION DE RUSSIE
  • FRANCE
  • GRÈCE
  • INDE
  • IRAN
  • ISRAËL
  • JAPON
  • KENYA
  • NOUVELLE ZÉLANDE
  • PAYS-BAS
  • RÉP. DE CORÉE
  • SERBIE
  • SLOVAQUIE
  • SUÈDE
  • TCHÉQUIE

Membres observateurs (16)

  • ARABIE SAOUDITE
  • AUTRICHE
  • BELGIQUE
  • BOSNIE-HERZÉGOVINE
  • DANEMARK
  • FINLANDE
  • LUXEMBOURG
  • MONACO
  • NIGERIA
  • PHILIPPINES
  • POLOGNE
  • ROUMANIE
  • ROYAUME-UNI
  • SLOVÉNIE
  • TUNISIE
  • VIET NAM

Organisations en liaison

  • CECIP European Weighing Industry Association
  • IEC International Electrotechnical Commission

Responsable pour

  • D 34:2019(fr) Conformité au type (CTT) - Evaluation de la conformité avant la commercialisation des instruments de mesure
Retour
Journée Mondiale Métrologie 2026

Journée Mondiale Métrologie 2026

Lire la suite
61e réunion du CIML

61e réunion du CIML

Lire la suite
Bulletin OIML<br>2026 n<sup>o</sup> 3

Bulletin OIML
2026 no 3

Lire la suite
Actualités

Actualités

Lire la suite
Publications

Publications

Lire la suite
Apprentissage<br>en ligne

Apprentissage
en ligne

Lire la suite
  • Contacter le staff du BIML
  • Infos pratiques
  • Avertissement
  • Politique de confidentialité & protection des données
  • Webmaster
OIML Logo
BIML - 11 rue Turgot - 75009 Paris - France - Tel +33 1 48 78 12 82 - Fax +33 1 42 82 17 27
© Copyright OIML 2021
Web design: rouge-pixel.com